【次世代半導体デバイスの品質を支える先進測定装置メーカー】

小間番号: 4C-27

日本セミラボはハンガリーにあるセミラボ社の日本法人である。半導体測定装置、太陽電池評価装置の販売、技術サービスを日本市場向けに行っている。

インプラ・アニール後の転移欠陥測定装置-EnVision-

1つ目のピックアップ製品はインプラ・アニール後の転位欠陥可視化装置である。15nmレベルの低欠陥の可視化を可能にしており、今までプロセスエンジニアの勘と力技に頼っていたプロセスを最適化する。転移欠陥の可視化で定量的にプロセスのコントールを実現する。

薄膜評価装置 分光エリプソメータ -SE-2000-

2つ目のピックアップ製品は薄膜評価装置 分光エリプソメータ-である。こちらの製品は業界屈指の実績があり、研究開発からインライン生産品質管理など様々な用途でご使用頂いている。拡張性が高く、また長年の経験による解析ノウハウと豊富なデータベースでお客様のニーズにお応えする。

半導体デバイス製造プロセスの工程管理、品質管理でお困りのエンジニアの方々は是非お立ち寄りしていただきたい。信頼性の高いユニークな測定装置群をご紹介することが可能だ。

 

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